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告別多臺(tái)設(shè)備!一站式影像測(cè)量解決方案可滿(mǎn)足“尺寸+瑕疵”雙重檢測(cè)需求

發(fā)表時(shí)間:2024-01-19 16:01:19 作者:三坐標(biāo) 來(lái)源:fixedmu.com 瀏覽:694

 過(guò)去,制造業(yè)一直面臨著兩大難題:標(biāo)準(zhǔn)影像儀僅能應(yīng)對(duì)常規(guī)幾何尺寸的測(cè)量,無(wú)法有效檢測(cè)產(chǎn)品表面的瑕疵;

而瑕疵或缺陷專(zhuān)用設(shè)備雖然能檢測(cè)瑕疵,卻無(wú)法滿(mǎn)足常規(guī)幾何尺寸的測(cè)量需求。這導(dǎo)致企業(yè)在進(jìn)行產(chǎn)品檢測(cè)時(shí)不得不購(gòu)買(mǎi)多臺(tái)設(shè)備,不僅增加了成本,還占用了寶貴的生產(chǎn)空間。


檢測(cè)方案

為了解決這一行業(yè)痛點(diǎn),我們推出了兼具幾何尺寸測(cè)量與瑕疵檢測(cè)的深度自學(xué)習(xí)外觀瑕疵檢測(cè)方案,通過(guò)影像測(cè)量?jī)x搭配METUS/PC-DMIS+HXGNViD軟件,將標(biāo)準(zhǔn)影像儀與瑕疵檢測(cè)技術(shù)相融合,既可完成通用性非常強(qiáng)的常規(guī)幾何尺寸高精度測(cè)量需求,也能對(duì)產(chǎn)品表面的各種瑕疵進(jìn)行精確檢測(cè)。

該檢測(cè)方案滿(mǎn)足了不同客戶(hù)對(duì)中端、中高 端到高 端機(jī)型的廣泛需求,為各類(lèi)規(guī)模的企業(yè)提供了靈活多樣的配置選擇,其外觀瑕疵和尺寸檢測(cè)也實(shí)現(xiàn)了從單一檢測(cè)到雙檢測(cè)的跨越。

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方案優(yōu)勢(shì)

相較于單一的尺寸檢測(cè)測(cè)量方案,深度自學(xué)習(xí)外觀瑕疵檢測(cè)方案具備以下優(yōu)勢(shì):

1. 測(cè)量準(zhǔn)確度高:依靠機(jī)器視覺(jué)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè),大幅提高測(cè)量準(zhǔn)確度,有效避免誤檢漏檢情況;

2. 追溯簡(jiǎn)便:測(cè)量結(jié)果可追溯,方便企業(yè)進(jìn)行品質(zhì)管理和問(wèn)題追蹤;

3. 成本低廉:一臺(tái)設(shè)備即可完成尺寸和瑕疵檢測(cè),節(jié)省了大量設(shè)備成本、空間、時(shí)間及人力成本。

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方案應(yīng)用

 

該方案還支持接觸和非接觸等多種傳感器,一次裝夾、一次設(shè)置即可快速完成多種特征測(cè)量,被廣泛的應(yīng)用于各行各業(yè)中。

1.  手機(jī)零部件:該方案能夠解決外形尺寸、配合孔位、配合邊寬度尺寸、輪廓尺寸和配合面等的測(cè)量難點(diǎn),確保檢測(cè)過(guò)程的高效率和準(zhǔn)確性。

2.  液晶面板:適用于測(cè)量透明、反光、低對(duì)比度的表面,能夠高精度地完成2D尺寸檢測(cè)、高度尺寸檢測(cè)、輪廓尺寸檢測(cè)。

3.  汽車(chē)電子:內(nèi)孔尺寸可采用接觸式測(cè)量,小孔及細(xì)窄肋使用光學(xué)大倍率聚焦測(cè)量,光學(xué)輪廓掃描用于測(cè)量弧形開(kāi)口邊界。

4.  連接器利用同軸光方便測(cè)量盲孔、并結(jié)合PC-DMIS軟件的陣列進(jìn)行自動(dòng)編程測(cè)量和評(píng)價(jià)。

5.  pcb板:可測(cè)量PCB的弓曲和翹曲、孔位置、阻焊膜厚度以及插入之后的芯片高度和角度。

6.各種瑕疵的檢測(cè):可檢測(cè)金屬類(lèi):劃痕、凸起、變形、黑點(diǎn)、刀痕、凹痕、崩缺、壓痕;塑料類(lèi):壓痕、劃痕、凹痕、皺縮、擦傷、白點(diǎn);玻璃類(lèi):劃痕、凹痕、白點(diǎn)、條紋、崩邊、裂紋。

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在這個(gè)飛速發(fā)展的制造業(yè)時(shí)代,效率和精度是企業(yè)追求的核心競(jìng)爭(zhēng)力。思瑞深度自學(xué)習(xí)外觀瑕疵檢測(cè)方案不僅是為企業(yè)提供了一種高效、精確的檢測(cè)手段,更是一種對(duì)未來(lái)制造業(yè)發(fā)展趨勢(shì)的深刻洞察。

 

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