400-8800-268
我們繼續(xù)開始三坐標(biāo)形位公差：垂直度討論
問題點(diǎn)
面和短圓柱的垂直度，基準(zhǔn)不同垂直度相差比較大。
垂直度算法：
如下圖，L1 為被測直線，D 為構(gòu)成L1 直線的所有被測點(diǎn)之間的平行于直線L 方向的大距離。即為軟件所評價(jià)的直線L1 相對于L 的垂直度。
分析：
1、平面作為基準(zhǔn)測量圓柱：
影響垂直度結(jié)果的因素有圓柱度及圓柱與平面的角度。
平面比較大圓柱比較短的情況下，數(shù)據(jù)會比較好，重復(fù)性也會比較好。
2、圓柱為基準(zhǔn)測量平面：
影響三坐標(biāo)垂直度結(jié)果的因素有平面度以及圓柱與平面的角度。
1）角度一定的情況下，被測要素越大，垂直度也會越大。
2）關(guān)于重復(fù)性：基準(zhǔn)圓柱比較短，圓柱度對垂直度的影響會比較大，測量點(diǎn)位不同，擬合出來的軸向偏差影響就會比較大。如下圖：例如角度偏差0.05度，被測元素100長。
位置度D1=100*sin（1°）≈1.745
當(dāng)角度角度偏差0.05度
位置度D2=100*sin（1.05°）≈1.832
誤差（D2-D1）=0.0875mm
垂直度公差要求是三坐標(biāo)形位公差中常見的一種位置公差，三坐標(biāo)測量人員少不了學(xué)習(xí)垂直度公差。本文如有不足，請前往思瑞測量官方微信告訴小編，敬請指正。還有機(jī)會獲得千元三坐標(biāo)購機(jī)優(yōu)惠卷。
思瑞測量是全球?qū)I(yè)的計(jì)量解決方案制造商,產(chǎn)品涵蓋三坐標(biāo)、三坐標(biāo)測量機(jī)、三坐標(biāo)測量儀、三坐標(biāo)測量、三次元、光學(xué)測量、三坐標(biāo)升級、三坐標(biāo)測量服務(wù)、及逆向工程等領(lǐng)域，全方位解決復(fù)雜測量難題！
Croma系列 通用型三坐標(biāo)測量機(jī)集高穩(wěn)定性與高效率于一身，行程齊全，可滿足大部分行業(yè)的檢測需求。
公安聯(lián)網(wǎng)備案號:
44030602003243 - 粵ICP備05004781號
返回頂部
